PCN170903 | 赛普拉斯半导体
PCN170903
最近更新：
2020 年 4 月 14 日
Ø Issue Date: 2017 年 3 月 8 日
Ø Effectivity Date: 2017 年 6 月 8 日
Ø Description: Qualification of Texas Instruments’ DMOS6 as a Replacement Wafer Fab Site and Cypress’ Test 25 as an Additional Wafer Sort Site for 64Kb/16Kb/4Kb F-RAM Serial Automotive-grade Products
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